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有效温度范围 常温 至 + 225 ºC
典型温度转换率 常温至 + 125 ºC 约10秒
温控精度 ± 1 ºC
出气流量 3 ~ 10 SCFM(1.4L/s ~ 4.7L/s)
产品详情技术规格

ThermoTST HTS200高温冲击气流仪用于电子元件 或非其他模块及器件的快速温度循环冲击,进行温度特性和器件表征测试; HTS200的有效温度范围常温(进气温度)至+ 200°C。经长期的多工况验证,满足各类生产环境和工程环境的要求。


特点


有效温度范围,常温(进气温度)至+225℃


触摸屏操作,人机交互界面


快速DUT温度稳定时间


温控精度±1℃,显示精度±0.1℃


紧凑的设计,很大限度地减少占地面积的要求


静音设计,满足工作环境的舒适度。


应用


产品的特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验,如:


芯片、微电子器件、集成电路


(SOC、FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP等)


闪存Flash、UFS、eMMC


PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、传感器、小型模块组件


光通讯(如:收发器 Transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等)


其它电子行业、航空航天新材料、实验室研究


测试标准


满足美国军用标准MIL体系测试标准


满足国内军用元件GJB体系测试标准


满足JEDEC测试要求









技术规格

有效温度范围常温(进气温度) + 225 ºC
典型温度转换率常温至 + 125 ºC约10秒
温控精度± 1 ºC
出气流量
3 ~ 10SCFM1.4L/s ~ 4.7L/s

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